薄膜表面瑕疵檢測設備的詳解

2022-08-13 09:55:05 精質視覺

　　時代的發展，工業的不斷進步，隨著人們對產品質量要求的不斷提高，表面質量檢測變得越來越重要。過去，許多表面質量檢測方法都依賴于人工檢測，這種檢測方法效率低下，受人類情感的影響，利用機器視覺來檢測表面質量是一種很好的方法。

　　傳統的檢測方法，如人工目測取樣，速度慢、精度低、易疲勞，不能滿足工業生產中高速、高分辨率、無損檢測的要求。在膠片生產過程中，由于生產工藝和現場環境的影響，容易造成膠片表面出現黑斑、晶斑、劃痕、孔洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產品的外觀，更重要的是降低薄膜的性能。如何及時檢測出薄膜表面的缺陷，消除產生的根源，控制和提高薄膜表面質量一直是薄膜企業追求的目標。與傳統的視覺檢測相比，基于CCD的薄膜表面缺陷檢測系統具有快速、可靠、準確、實時在線檢測、自動報警和顯示當前缺陷具體信息等優點，以便及時處理。

　　精質視覺薄膜表面瑕疵檢測設備原理：

　　視覺系統的輸出不是圖像視頻信號，而是算術處理后的檢測結果(諸如缺陷、尺寸等數據)。一般來說，機器視覺檢查是使用機器而不是肉眼來進行測量和判斷。首先，CCD相機用于將被捕獲的對象轉換成圖像信號，該圖像信號被傳輸到專用圖像處理系統，并根據像素分布、亮度、顏色等信息轉換成數字化信號。

　　精密光譜薄膜缺陷檢測儀技術參數:

　　檢驗對象:保護膜、鍍膜、PE膜、食品包裝膜、太陽膜、光學膜等。

　　典型存在瑕疵：晶點、黑點、蚊蟲、污點、線條、破洞等

　　檢測速度：最大800m/min

　　檢測寬度: 任意(可根據生產線定制)

　　檢測系統精度：0.1mm~1mm(取決于教師相機進行數量、產線幅寬及車速)

　　瑕疵標識：自動控制聲光報警、截取我們當前存在瑕疵圖片及實時X/Y坐標瑕疵分布圖可以顯示

　　歷史記錄：根據批次號，自動記錄每卷膠片缺陷的圖片、尺寸、分布等信息

　　精密光譜薄膜缺陷探測器功能:

　　精確的缺陷坐標(x，y坐標)定位和顯示;