薄膜表面瑕疵檢測(cè)設(shè)備的詳解

2022-08-13 09:55:05 精質(zhì)視覺(jué)

　　時(shí)代的發(fā)展，工業(yè)的不斷進(jìn)步，隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量要求的不斷提高，表面質(zhì)量檢測(cè)變得越來(lái)越重要。過(guò)去，許多表面質(zhì)量檢測(cè)方法都依賴(lài)于人工檢測(cè)，這種檢測(cè)方法效率低下，受人類(lèi)情感的影響，利用機(jī)器視覺(jué)來(lái)檢測(cè)表面質(zhì)量是一種很好的方法。

　　傳統(tǒng)的檢測(cè)方法，如人工目測(cè)取樣，速度慢、精度低、易疲勞，不能滿(mǎn)足工業(yè)生產(chǎn)中高速、高分辨率、無(wú)損檢測(cè)的要求。在膠片生產(chǎn)過(guò)程中，由于生產(chǎn)工藝和現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境的影響，容易造成膠片表面出現(xiàn)黑斑、晶斑、劃痕、孔洞、線(xiàn)條、褶皺、蚊蟲(chóng)等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產(chǎn)品的外觀(guān)，更重要的是降低薄膜的性能。如何及時(shí)檢測(cè)出薄膜表面的缺陷，消除產(chǎn)生的根源，控制和提高薄膜表面質(zhì)量一直是薄膜企業(yè)追求的目標(biāo)。與傳統(tǒng)的視覺(jué)檢測(cè)相比，基于CCD的薄膜表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)具有快速、可靠、準(zhǔn)確、實(shí)時(shí)在線(xiàn)檢測(cè)、自動(dòng)報(bào)警和顯示當(dāng)前缺陷具體信息等優(yōu)點(diǎn)，以便及時(shí)處理。

　　精質(zhì)視覺(jué)薄膜表面瑕疵檢測(cè)設(shè)備原理：

　　視覺(jué)系統(tǒng)的輸出不是圖像視頻信號(hào)，而是算術(shù)處理后的檢測(cè)結(jié)果(諸如缺陷、尺寸等數(shù)據(jù))。一般來(lái)說(shuō)，機(jī)器視覺(jué)檢查是使用機(jī)器而不是肉眼來(lái)進(jìn)行測(cè)量和判斷。首先，CCD相機(jī)用于將被捕獲的對(duì)象轉(zhuǎn)換成圖像信號(hào)，該圖像信號(hào)被傳輸?shù)綄?zhuān)用圖像處理系統(tǒng)，并根據(jù)像素分布、亮度、顏色等信息轉(zhuǎn)換成數(shù)字化信號(hào)。

　　精密光譜薄膜缺陷檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù):

　　檢驗(yàn)對(duì)象:保護(hù)膜、鍍膜、PE膜、食品包裝膜、太陽(yáng)膜、光學(xué)膜等。

　　典型存在瑕疵：晶點(diǎn)、黑點(diǎn)、蚊蟲(chóng)、污點(diǎn)、線(xiàn)條、破洞等

　　檢測(cè)速度：最大800m/min

　　檢測(cè)寬度: 任意(可根據(jù)生產(chǎn)線(xiàn)定制)

　　檢測(cè)系統(tǒng)精度：0.1mm~1mm(取決于教師相機(jī)進(jìn)行數(shù)量、產(chǎn)線(xiàn)幅寬及車(chē)速)

　　瑕疵標(biāo)識(shí)：自動(dòng)控制聲光報(bào)警、截取我們當(dāng)前存在瑕疵圖片及實(shí)時(shí)X/Y坐標(biāo)瑕疵分布圖可以顯示

　　歷史記錄：根據(jù)批次號(hào)，自動(dòng)記錄每卷膠片缺陷的圖片、尺寸、分布等信息

　　精密光譜薄膜缺陷探測(cè)器功能:

　　精確的缺陷坐標(biāo)(x，y坐標(biāo))定位和顯示;

　　自動(dòng)進(jìn)行聲光報(bào)警，并顯示我國(guó)當(dāng)前及前后10個(gè)瑕疵通過(guò)圖像;

　　實(shí)時(shí)缺陷校準(zhǔn)，記錄缺陷直徑、坐標(biāo)、類(lèi)型等信息;